Measurement of the branching fraction scrB(τ-→h- →π0ντ)
Publication Type
Journal Article
Publication Date
1-1994
Abstract
Using data from the CLEO II detector at the Cornell Electron Storage Ring, we measure scrB(τ−→h−π0ντ) where h− refers to either π− or K−. We use three different methods to measure this branching fraction. The combined result is scrB(τ−→h−π0ντ)=0.2587±0.0012±0.0042, in good agreement with standard model predictions.
Discipline
Computer Sciences | Databases and Information Systems
Research Areas
Data Science and Engineering
Publication
Physical Review Letters
Volume
72
Issue
24
First Page
3762
Last Page
3766
ISSN
0031-9007
Identifier
10.1103/PhysRevLett.72.3762
Publisher
American Physical Society
Citation
1
COinS
Comments
complete author list: Artuso M.; Goldberg M.; He D.; Horwitz N.; Kennett R.; Mountain R.; Moneti G.; Muheim F.; Mukhin Y.; Playfer S.; Rozen Y.; Stone S.; Thulasidas M.; Vasseur G.; Xing X.; Zhu G.; Bartelt J.; Csorna S.; Egyed Z.; Jain V.; Kinoshita K.; Barish B.; Chadha M.; Chan S.; Cowen D.; Eigen G.; Miller J.; O'Grady C.; Urheim J.; Weinstein A.; Acosta D.; Athanas M.; Masek G.; Paar H.; Sivertz M.; Gronberg J.; Kutschke R.; Menary S.; Morrison R.; Nakanishi S.; Nelson H.; Nelson T.; Qiao C.; Richman J.; Ryd A.; Tajima H.; Sperka D.; Witherell M.; Procario M.; Balest R.; Cho K.; Daoudi M.; Ford W.; Johnson D.; Lingel K.; Lohner M.; Rankin P.; Smith J.; Alexander J.; Bebek C.; Berkelman K.; Bloom K.; Browder T.; Cassel D.; Cho H.; Coffman D.; Crowcroft D.; Drell P.; Ehrlich R.; Gaidarev P.; Galik R.; Garcia-Sciveres M.; Geiser B.; Gittelman B.; Gray S.; Hartill D.; Heltsley B.; Jones C.; Jones S.; Kandaswamy J.; Katayama N.; Kim P.; Kreinick D.; Ludwig G.; Masui J.; Mevissen J.; Mistry N.; Ng C.; Nordberg E.; Patterson J.; Peterson D.; Riley D.; Salman S.; Sapper M.; Würthwein F.; Avery P.; Freyberger A.; Rodriguez J.; Stephens R.; Yang S.; Yelton J.; Cinabro D.; Henderson S.; Liu T.; Saulnier M.; Wilson R.; Yamamoto H.; Bergfeld T.; Eisenstein B.; Gollin G.; Ong B.; Palmer M.; Selen M.; Thaler J.; Edwards K.; Ogg M.; Spaan B.; Bellerive A.; Britton D.; Hyatt E.; MacFarlane D.; Patel P.; Sadoff A.; Ammar R.; Ball S.; Baringer P.; Bean A.; Besson D.; Coppage D.; Copty N.; Davis R.; Hancock N.; Kelly M.; Kotov S.; Kravchenko I.; Kwak N.; Lam H.; Kubota Y.; Lattery M.; Momayezi M.; Nelson J.; Patton S.; Perticone D.; Poling R.; Savinov V.; Schrenk S.; Wang R.; Alam M.; Kim I.; Nemati B.; O'Neill J.; Severini H.; Sun C.; Zoeller M.; Crawford G.; Daubenmier C.; Fulton R.; Fujino D.; Gan K.; Honscheid K.; Kagan H.; Kass R.; Lee J.; Malchow R.; Skovpen Y.; Sung M.; White C.; Butler F.; Fu X.; Kalbfleisch G.; Ross W.; Skubic P.; Wood M.; Fast J.; McIlwain R.; Miao T.; Miller D.; Modesitt M.; Payne D.; Shibata E.; Shipsey I.; Wang P.; Battle M.; Ernst J.; Gibbons L.; Kwon Y.; Roberts S.; Thorndike E.; Wang C.; Dominick J.; Lambrecht M.; Sanghera S.; Shelkov V.; Skwarnicki T.; Stroynowski R.; Volobouev I.; Wei G.; Zadorozhny P.; Artuso M.; Zadorozhny P.; Artuso M.