Measurement of the decay τ-→π-π+π-2π0ντ
Publication Type
Journal Article
Publication Date
1-1993
Abstract
The decay τ−→π−π+π−2π0ντ has been observed in e+e− annihilation using the CLEO II detector at the Cornell Electron Storage Ring. In a data sample collected at √s ∼10.6 GeV, 668±38 decay candidates have been identified by exclusively reconstructing two π0’s accompanying three charged particles, which are assumed to be pions. Normalizing to the number of τ pairs detected with one charged particle recoiling against three charged particles, this yields a branching ratio of B03π2π=(0.48±0.04±0.04)%. A signal of 430±33 events for the decay τ−→π−ωπ0ντ has also been observed, corresponding to a branching ratio of B0πωπ=(0.39±0.04±0.04)%.
Discipline
Computer Engineering | Databases and Information Systems
Research Areas
Data Science and Engineering
Publication
Physical Review Letters
Volume
71
Issue
12
First Page
1791
Last Page
1795
ISSN
0031-9007
Identifier
10.1103/PhysRevLett.71.1791
Publisher
American Physical Society
Citation
1
Comments
complete author list: Bortoletto D.; Brown D.; Fast J.; Mcilwain R.; Miao T.; Miller D.; Modesitt M.; Schaffner S.; Shibata E.; Shipsey I.; Wang P.; Battle M.; Ernst J.; Kroha H.; Roberts S.; Sparks K.; Thorndike E.; Wang C.; Dominick J.; Sanghera S.; Skwarnicki T.; Stroynowski R.; Artuso M.; He D.; Goldberg M.; Horwitz N.; Kennett R.; Moneti G.; Muheim F.; Mukhin Y.; Playfer S.; Rozen Y.; Stone S.; Thulasidas M.; Vasseur G.; Zhu G.; Bartelt J.; Csorna S.; Egyed Z.; Jain V.; Sheldon P.; Akerib D.; Barish B.; Chadha M.; Chan S.; Cowen D.; Eigen G.; Miller J.; O'Grady C.; Urheim J.; Weinstein A.; Acosta D.; Athanas M.; Masek G.; Ong B.; Paar H.; Sivertz M.; Bean A.; Gronberg J.; Kutschke R.; Menary S.; Morrison R.; Nakanishi S.; Nelson H.; Nelson T.; Richman J.; Ryd A.; Tajima H.; Schmidt D.; Sperka D.; Witherell M.; Procario M.; Yang S.; Balest R.; Cho K.; Dauodi M.; Ford W.; Johnson D.; Lingel K.; Lohner M.; Rankin P.; Smith J.; Alexander J.; Bebek C.; Berkelman K.; Besson D.; Browder T.; Cassel D.; Cho H.; Coffman D.; Drell P.; Ehrlich R.; Garcia-Sciveres M.; Geiser B.; Gittelman B.; Gray S.; Hartill D.; Heltsley B.; Jones C.; Jones S.; Kandaswamy J.; Katayama N.; Kim P.; Kreinick D.; Ludwig G.; Masui J.; Mevissen J.; Mistry N.; Ng C.; Nordberg E.; Ogg M.; Patterson J.; Peterson D.; Riley D.; Salman S.; Sapper M.; Worden H.; Würthwein F.; Avery P.; Freyberger A.; Rodriguez J.; Stephens R.; Yelton J.; Cinabro D.; Henderson S.; Kinoshita K.; Liu T.; Saulnier M.; Shen F.; Wilson R.; Yamamoto H.; Selen M.; Sadoff A.; Ammar R.; Ball S.; Baringer P.; Coppage D.; Copty N.; Davis R.; Hancock N.; Kelly M.; Kwak N.; Lam H.; Kubota Y.; Lattery M.; Nelson J.; Patton S.; Perticone D.; Poling R.; Savinov V.; Schrenk S.; Wang R.; Alam M.; Kim I.; Nemati B.; O'Neill J.; Severini H.; Sun C.; Zoeller M.; Crawford G.; Daubenmier C.; Fulton R.; Fujino D.; Gan K.; Honscheid K.; Kagan H.; Kass R.; Lee J.; Malchow R.; Morrow F.; Skovpen Y.; Sung M.; White C.; Whitmore J.; Wilson P.; Butler F.; Fu X.; Kalbfleisch G.; Lambrecht M.; Ross W.; Skubic P.; Snow J.; Wang P.; Wood M.; Bortoletto D.; Snow J.; Skubic P.; Wood M.; Wang P.; Kalbfleisch G.; Fu X.; Ross W.; Lambrecht M.; Whitmore J.; White C.; Butler F.; Wilson P.; Sung M.; Bortoletto D.